Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics

Edition en anglais

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Peter-W Hawkes - Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics.
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Caractéristiques

  • Date de parution
    01/10/2008
  • Editeur
  • ISBN
    978-0-12-374220-9
  • EAN
    9780123742209
  • Présentation
    Relié
  • Nb. de pages
    600 pages
  • Poids
    1.06 Kg
  • Dimensions
    15,7 cm × 23,5 cm × 3,2 cm

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