Réussir les tests aux concours des écoles de commerce - Poche

2e édition

Note moyenne 
Axel Delmotte et William Seck - Réussir les tests aux concours des écoles de commerce.
Ce manuel s'adresse aux candidats : qui veulent passer les tests Tage Mage, Tame, Tage 2 ; qui préparent les concours Tremplin, Passerelle, Profils,... Lire la suite
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Résumé

Ce manuel s'adresse aux candidats : qui veulent passer les tests Tage Mage, Tame, Tage 2 ; qui préparent les concours Tremplin, Passerelle, Profils, IAE, ou souhaitent intégrer les masters 2. Quatre grandes parties : mathématiques (calcul, conditions minimales) ; logique (raisonnement, séries) ; langue française (compréhension de texte, expression) ; anglais (QCM de grammaire et de vocabulaire, textes à trous...). Plus de 500 exercices pour s'entraîner : un point sur les notions à maîtriser ; de nombreux conseils et astuces pour déjouer les pièges et gagner en rapidité. Un ouvrage indispensable pour réussir les concours d'entrée aux écoles de commerce.

Sommaire

  • MATHEMATIQUES
    • L'essentiel à connaître
    • Calcul
    • Conditions minimales
  • LOGIQUE
    • Tests de logique
    • Raisonnement logique
  • LANGUE FRANCAISE
    • Compréhension de texte
    • Expression
  • ANGLAIS
    • Grammaire
    • Vocabulaire
    • Compréhension de texte

Caractéristiques

  • Date de parution
    01/09/2009
  • Editeur
  • Collection
  • ISBN
    978-2-7590-0772-1
  • EAN
    9782759007721
  • Format
    Poche
  • Présentation
    Broché
  • Nb. de pages
    282 pages
  • Poids
    0.44 Kg
  • Dimensions
    15,0 cm × 24,0 cm × 1,4 cm

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À propos des auteurs

Axel Delmotte, diplômé d'école de commerce, doctorant en linguistique anglaise et traducteur, enseigne en classes préparatoires aux écoles de commerce. William Seck est professeur de mathématiques en classes préparatoires en écoles de commerce. Hubert Silly est expert en matière de tests standardisés. Il est l'auteur de nombreux ouvrages de préparation au TOEFL, TOEIC, SAT, GRE, GMAT et LSAT, publiés dans plus de 30 pays.

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