Le nouveau TOEIC - La méthode réussite - Grand Format

Edition 2018 avec 4 CD audio MP3

Note moyenne 
David Mayer et Serena Murdoch-Stern - Le nouveau TOEIC - La méthode réussite. 4 CD audio MP3
La Méthode Réussite Nathan offre un véritable programme de révision et d'entraînement pour réussir votre TOEIC®. L'examen entièrement décrypté... Lire la suite
25,90 € Neuf
Définitivement indisponible

Résumé

La Méthode Réussite Nathan offre un véritable programme de révision et d'entraînement pour réussir votre TOEIC®. L'examen entièrement décrypté pour vous : des conseils pour comprendre les ressorts du test, déjouer les pièges et optimiser votre score. Des tests découpés pour améliorer graduellement votre rapidité et votre concentration (méthode Build Up). 3 tests complets au format de l'épreuve. 4 CD audio convertibles en MP3 avec la prise en compte des accents attendus à l'examen.

Caractéristiques

  • Date de parution
    04/01/2018
  • Editeur
  • ISBN
    978-2-09-165006-7
  • EAN
    9782091650067
  • Format
    Grand Format
  • Présentation
    Broché
  • Nb. de pages
    303 pages
  • Poids
    0.8 Kg
  • Dimensions
    21,0 cm × 27,0 cm × 1,7 cm

Avis libraires et clients

Avis audio

Écoutez ce qu'en disent nos libraires !

À propos des auteurs

David Mayer, PhD, est né et a grandi à New York où il a obtenu son doctorat en littérature française. Il a commencé sa carrière de professeur d'anglais en 1987 à l'école Sainte-Geneviève à Versailles. Il a été coordinateur du département d'anglais dans une grande école scientifique à Paris où il préparait ses élèves pour les examens TOEIC et TOEFL. Aujourd'hui, il dirige une société de formation The David Mayer Method for learning English.
Serena Murdoch Stern, anglophone, formatrice d'anglais en France (spécialisée dans l'anglais des affaires), enseignante dans de grandes écoles et universités parisiennes, et auteur de nombreuses méthodes de langues à succès, vous fait bénéficier de son expérience acquise auprès des candidats individuels et étudiants passant le TOEIC.

Des mêmes auteurs

Vous aimerez aussi

Derniers produits consultés