Microanalyse X par sonde électronique : méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction

Michel Fialin

,

Jean-Louis Pouchou

,

Jean-François Bresse

Note moyenne 
Michel Fialin et Jean-Louis Pouchou - Microanalyse X par sonde électronique : méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction.
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Caractéristiques

  • Date de parution
    01/01/1997
  • Editeur
  • ISBN
    2-900195-30-6
  • EAN
    9782900195307
  • Présentation
    Broché
  • Poids
    0.404 Kg
  • Dimensions
    20,7 cm × 29,4 cm × 1,0 cm

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