X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY. Second edition (Relié)

Ron Jenkins

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  • Wiley

  • Paru le : 01/01/1999
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An up-to-date review of X-ray spectroscopic techniques This proven guidebook for industry professionals is thoroughly updated and expanded to reflect advances in X-ray analysis over the last decade. X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition includes: * The history of X-ray fluorescence spectrometry-new to this edition * A critical review of the most useful X-ray spectrometers * Techniques and procedures for quantitative and qualitative analysis * Modern applications and industrial trends * X-ray spectra-new to this edition
    • Production and properties X-rays
    • Industrial applications of X-rays
    • X-ray diffraction
    • X-ray spectra
    • History and development of X-ray fluorescence spectrometry
    • Instrumentation for X-ray spectrometry
    • Comparison of wavelength and energy dispersive spectrometers
    • More recent trends in X-ray fluorescence instrumentation
    • Specimen preparation and presentation
    • Use of X-ray spectrometry for qualitative analysis
    • Considerations in quantitative X-ray fluorescence analysis
    • Quantitative procedures in X-ray fluorescence analysis
    • Applications of X-ray methods
  • Date de parution : 01/01/1999
  • Editeur : Wiley
  • Collection : chemical analysis
  • ISBN : 0-471-29942-1
  • EAN : 9780471299424
  • Présentation : Relié
  • Nb. de pages : 207 pages
  • Poids : 0.465 Kg
  • Dimensions : 13,8 cm × 23,5 cm × 1,7 cm

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