RELIABILITY, YIELD, AND STRESS BURN-IN. - A unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development (Relié)

Taeho Kim, Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien

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  • Kluwer Academic Publishers

  • Paru le : 01/01/1998
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  • Date de parution : 01/01/1998
  • Editeur : Kluwer Academic Publishers
  • ISBN : 0-7923-8107-6
  • EAN : 9780792381075
  • Présentation : Relié
  • Nb. de pages : 394 pages

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