Caracterisation Et Nettoyage Du Silicium. Caracterisation Physico-Chimique Et Nettoyage Par Voie Humide

Collectif

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Annie Baudrant - Caracterisation Et Nettoyage Du Silicium. Caracterisation Physico-Chimique Et Nettoyage Par Voie Humide.
Depuis la réalisation du premier circuit intégré il y a plus de quarante ans, les étapes de fabrication en micro-électronique sont restées les mêmes.... Lire la suite
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Résumé

Depuis la réalisation du premier circuit intégré il y a plus de quarante ans, les étapes de fabrication en micro-électronique sont restées les mêmes. Les procédés ont cependant considérablement évolué, dans l'objectif de diminuer toutes les dimensions, pour intégrer toujours plus. Des techniques nouvelles et complexes se cachent aujourd'hui derrière un procédé de fabrication. Le présent ouvrage passe en revue l'ensemble des étapes élémentaires : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie.
Sont également présentées les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Chaque étape fait l'objet d'un chapitre : le procédé, les équipements et la physique des techniques y sont détaillés.

Caractéristiques

  • Date de parution
    01/01/2003
  • Editeur
  • Collection
  • ISBN
    2-7462-0605-6
  • EAN
    9782746206052
  • Présentation
    Relié
  • Nb. de pages
    218 pages
  • Poids
    0.505 Kg
  • Dimensions
    16,0 cm × 24,0 cm × 1,3 cm

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