Transient Floating-Body Effects for Memory Applications in Fully-Depleted SOI MOSFETs

Par : Maryline Bawedin

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  • Nombre de pages168
  • PrésentationBroché
  • Poids0.278 kg
  • Dimensions16,0 cm × 24,0 cm × 1,0 cm
  • ISBN978-2-87463-088-0
  • EAN9782874630880
  • Date de parution01/01/2007
  • CollectionThèses de l'UCL
  • ÉditeurPresses Universitaires Louvain

Résumé

Memory devices based on floating-body effects (FBE) in Silicon-on-Insulator (SOI) technology are among the most promising candidates for sub-100nm and low power Dynamic Random Access Memory (DRAM). This new type of DRAMs, called Zero-Capacitor RAM (Z-RAM)
Memory devices based on floating-body effects (FBE) in Silicon-on-Insulator (SOI) technology are among the most promising candidates for sub-100nm and low power Dynamic Random Access Memory (DRAM). This new type of DRAMs, called Zero-Capacitor RAM (Z-RAM)