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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Par : Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Formats :
Grand Format
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  • Nombre de pages290
  • FormatGrand Format
  • PrésentationBroché
  • Dimensions15,5 cm × 23,5 cm × 1,5 cm
  • ISBN978-1-78405-165-5
  • EAN9781784051655
  • Date de parution01/07/2016
  • CollectionGénie mécanique et mécanique d
  • ÉditeurISTE éditions

Résumé

Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Ce titre développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière.
Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.