Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée - Grand Format

Note moyenne 
Pierre Richard Dahoo et Philippe Pougnet - Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée.
Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales... Lire la suite
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Résumé

Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Ce titre développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière.
Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

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