Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Volume 2, Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Par : Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
  • Nombre de pages224
  • FormatGrand Format
  • PrésentationBroché
  • Poids0.37 kg
  • Dimensions15,5 cm × 23,5 cm × 1,2 cm
  • ISBN978-1-78405-794-7
  • EAN9781784057947
  • Date de parution01/01/2022
  • CollectionFiabilité des systèmes multiph
  • ÉditeurISTE éditions

Résumé

Les nanosciences, les nanotechnologies et les lois de la physique quantique sont source d'innovations de rupture. A partir de systèmes quantiques à deux niveaux, l'ingénierie quantique permet de développer des matériaux et des systèmes de mesure très sensibles et des ordinateurs quantiques de très haute puissance de calcul. Cet ouvrage présente les connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies.
Il analyse les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux avec son environnement. Il traite également du concept de spin à partir de l'équation de Dirac et explique le fonctionnement des portes quantiques à partir des fondements théoriques et des exemples d'application. La méthode d'optimisation fiabiliste IRBDO) est appliquée pour estimer les propriétés mécaniques des nanotubes de carbone.
Pierre Richard Dahoo est professeur à l'Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines, chercheur au LATMOS et directeur de l'Institut des sciences et techniques des Yvelines. Philippe Pougnet est un expert en fiabilité et en technologie-produit-processus de systèmes mécatroniques embarqués. Il est ingénieur-docteur de l'Université de Grenoble Alpes et ingénieur de l'INPG. Abdelkhalak El Hami est professeur des universités à l'INSA de Rouen Normandie.
Il est également directeur du département de mécanique et responsable de la Chaire de mécanique du CNAM en Normandie.