La mesure de l'intelligence (1904-2004). Conférences à la Sorbonne à l'occasion du centenaire de l'échelle Binet-Simon

Ce livre marque la commémoration du centenaire de l'Echelle métrique de l'intelligence Binet-Simon qui a eu lieu le samedi 5 juin 2004 dans l'amphithéâtre Durkheim à la Sorbonne. Les textes rassemblés ici conservent la trace écrite de la série de conférences donnée à cette occasion par G. Avanzini, S. Nicolas, M. Huteau, J. Lautrey, D. Faber. M. Zarrouati, O. Martin et B. Andrieu. On trouve dans ce livre toute une série de chapitres sur l'histoire du test Binet-Simon et sur l'évolution des tests métriques de l'intelligence jusqu'à aujourd'hui. Il y a maintenant un siècle que le premier test d'intelligence a été élaboré par Alfred Binet (1857-1911), le psychologue français le plus connu dans le monde.
L'élaboration de la première version de l'échelle métrique de l'intelligence sera réalisée au cours de l'année 1904-1905 dans le contexte de l'évolution des pratiques pédagogiques de l'époque. En octobre 1904, une commission ministérielle sera créée autour de la question de la scolarisation des enfants arriérés. Binet, qui fait partie de cette commission, imposera l'idée d'un examen psychologique afin de déterminer l'admission des enfants anormaux dans une école spéciale.
C'est dans ce contexte qu'il élabore avec l'aide de son collaborateur Théodore Simon (1873-1961) un test destiné à établir un diagnostic scientifique des états inférieurs de l'intelligence. C'est par le détour du diagnostic de la débilité mentale que la question de la mesure de l'intelligence va ainsi être formulée et résolue. Ce livre s'adresse aux psychologues, aux pédagogues, et aux historiens spécialistes ou simplement curieux de l'approche scientifique de l'intelligence et plus particulièrement des idées de Binet sur la question.