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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
3rd edition

Par : Joseph Goldstein
Formats :
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  • Poids1.68 kg
  • ISBN0-306-47292-9
  • EAN9780306472923
  • Date de parution01/01/2003
  • ÉditeurSpringer

A propos de Joseph Goldstein

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