Scanning Electron Microscopy and X - Ray Microanalysis
3rd edition

Par : Joseph Goldstein

Formats :

116,50 €
  • Paiement en ligne :
    • Livraison à domicile ou en point Mondial Relay estimée à partir du 4 décembre
      Cet article sera commandé chez un fournisseur et vous sera envoyé 10 jours après la date de votre commande.
    • Retrait Click and Collect en magasin gratuit
  • PrésentationRelié
  • Poids1.68 kg
  • ISBN0-306-47292-9
  • EAN9780306472923
  • Date de parution01/01/2003
  • ÉditeurSpringer

A propos de Joseph Goldstein

Découvrir l'auteur