Menu
Accès à : decitrepro.fr

RELIABILITY, YIELD, AND STRESS BURN-IN. - A unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development

Taeho Kim

,

Way Kuo

,

Wei-Ting Kary Chien

Note moyenne 
Donner le premier avis
Taeho Kim et Way Kuo - RELIABILITY, YIELD, AND STRESS BURN-IN. - A unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development.
160,49 € Neuf
Expédié sous 6 à 12 jours
Livré chez vous entre le 26 avril et le 3 mai
En librairie

Caractéristiques

  • Date de parution
    01/01/1998
  • Editeur
    Kluwer Academic Publishers
  • ISBN
    0-7923-8107-6
  • EAN
    9780792381075
  • Présentation
    Relié
  • Nb. de pages
    394 pages

Avis libraires et clients

Avis audio

Écoutez ce qu'en disent nos libraires !

Des mêmes auteurs

  • Way Kuo - Fiabilité de l'énergie renouvelable et nucléaire - Protection environnementale et sécurité.
    31,50 €

Les clients ont également aimé

  • Thomas-A Moore - Relativité générale.
    38,90 €
  • Olivier Hamant - Antidote au culte de la performance - La robustesse du vivant.
    3,90 €
  • Marc-André Selosse - Jamais seul - Ces microbes qui construisent les plantes, les animaux et les civilisations.
    9,30 €
  • Christian Ambiehl et Alain Gourmaud - Mémento de l'arboriste - Volume 1, L'arboriste grimpeur.
    48,00 €
  • Stephen Hawking - Une brève histoire du temps - Du Big Bang aux trous noirs.
    7,50 €
  • Francis Bucaille - Revitaliser les sols - Diagnostic, fertilisation, nutriprotection.
    35,00 €

Derniers produits consultés

RELIABILITY, YIELD, AND STRESS BURN-IN. - A unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development est également présent dans les rayons


Livraison
sous 24/48h

Retrait en librairie
gratuit en 1h

Service clients
de 9h à 17h30

Paiement PayPal en
4X sans frais
Newsletter
Inscrivez-vous pour découvrir
toutes nos offres !
MIEUX NOUS CONNAITRE
BESOIN D'AIDE ?
AUTOUR DU NUMERIQUE
Haut de page
160,49 €