RELIABILITY, YIELD, AND STRESS BURN-IN.. A unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development

Par : Taeho Kim, Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien
Formats :
160,49 €
  • Nombre de pages394
  • PrésentationRelié
  • ISBN0-7923-8107-6
  • EAN9780792381075
  • Date de parution01/01/1998
  • ÉditeurKluwer Academic Publishers