Approches statistiques du risque
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- Nombre de pages402
- PrésentationBroché
- FormatGrand Format
- Poids0.66 kg
- Dimensions16,0 cm × 24,0 cm × 2,1 cm
- ISBN978-2-7108-0965-4
- EAN9782710809654
- Date de parution15/07/2014
- ÉditeurTechnip (Editions)
Résumé
L'actualité nous renvoie tous les jours une facette du risque : crise financière, accidents d'avion, dérapages du changement climatique, etc. Quel est le rôle joué par la statistique dans l'analyse de ces risques et quels sont les outils spécifiquement développés pour cela ? Cet ouvrage est consacré à une présentation des fondements méthodologiques classiques, mais aussi récents, et présente des applications à des domaines variés.
Il est le fruit de la collaboration entre spécialistes parmi les plus réputés : Patrice Bertail (université Paris Ouest-Nanterre-La Défense), Arthur Charpentier (université Rennes-1), Anne-Laure Fougères (université Claude Bernard, Lyon), Stéphane Loisel (université Claude Bernard, Lyon), Eric Parent (AgroParisTech) et Jean-Marc Talion (université Paris-1), réunis à l'occasion des 14e Journées d'étude en statistique organisées par la SFdS au Centre international de rencontres mathématiques de Luminy.
Il est le fruit de la collaboration entre spécialistes parmi les plus réputés : Patrice Bertail (université Paris Ouest-Nanterre-La Défense), Arthur Charpentier (université Rennes-1), Anne-Laure Fougères (université Claude Bernard, Lyon), Stéphane Loisel (université Claude Bernard, Lyon), Eric Parent (AgroParisTech) et Jean-Marc Talion (université Paris-1), réunis à l'occasion des 14e Journées d'étude en statistique organisées par la SFdS au Centre international de rencontres mathématiques de Luminy.
L'actualité nous renvoie tous les jours une facette du risque : crise financière, accidents d'avion, dérapages du changement climatique, etc. Quel est le rôle joué par la statistique dans l'analyse de ces risques et quels sont les outils spécifiquement développés pour cela ? Cet ouvrage est consacré à une présentation des fondements méthodologiques classiques, mais aussi récents, et présente des applications à des domaines variés.
Il est le fruit de la collaboration entre spécialistes parmi les plus réputés : Patrice Bertail (université Paris Ouest-Nanterre-La Défense), Arthur Charpentier (université Rennes-1), Anne-Laure Fougères (université Claude Bernard, Lyon), Stéphane Loisel (université Claude Bernard, Lyon), Eric Parent (AgroParisTech) et Jean-Marc Talion (université Paris-1), réunis à l'occasion des 14e Journées d'étude en statistique organisées par la SFdS au Centre international de rencontres mathématiques de Luminy.
Il est le fruit de la collaboration entre spécialistes parmi les plus réputés : Patrice Bertail (université Paris Ouest-Nanterre-La Défense), Arthur Charpentier (université Rennes-1), Anne-Laure Fougères (université Claude Bernard, Lyon), Stéphane Loisel (université Claude Bernard, Lyon), Eric Parent (AgroParisTech) et Jean-Marc Talion (université Paris-1), réunis à l'occasion des 14e Journées d'étude en statistique organisées par la SFdS au Centre international de rencontres mathématiques de Luminy.
















