Fiabilité des transistors bipolaires à hétérojonction sur substrat InP. Etude des mécanismes de dégradation des transistors bipolaires à hétérojonction sur substrat InP destinés aux communications optiques

Par : Jean-Christophe Martin

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  • Nombre de pages224
  • Poids0.37 kg
  • ISBN978-613-1-51305-3
  • EAN9786131513053
  • ÉditeurEd. Universitaires Européennes

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