Statistique industrielle. Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Par : François Bergeret, Sabine Mercier
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  • Nombre de pages240
  • FormatPDF
  • ISBN978-2-10-082276-8
  • EAN9782100822768
  • Date de parution20/01/2021
  • Copier CollerNon Autorisé
  • Protection num.Adobe DRM
  • Taille5 Mo
  • Infos supplémentairespdf
  • ÉditeurDunod

Résumé

La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n'a jamais été aussi importante qu'aujourd'hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels. Après avoir détaillé l'évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le concept d'estimation et son lien avec l'échantillonnage, les plans d'échantillonnage, les cartes de contrôle et l'aptitude des procédés, cet ouvrage présente 7  cas d'étude issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l'aéronautique, l'industrie pharmaceutique et l'automobile.
Le lien entre la maîtrise statistique des procédés et la maintenance prédictive fait aussi l'objet d'une analyse concrète.
La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n'a jamais été aussi importante qu'aujourd'hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels. Après avoir détaillé l'évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le concept d'estimation et son lien avec l'échantillonnage, les plans d'échantillonnage, les cartes de contrôle et l'aptitude des procédés, cet ouvrage présente 7  cas d'étude issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l'aéronautique, l'industrie pharmaceutique et l'automobile.
Le lien entre la maîtrise statistique des procédés et la maintenance prédictive fait aussi l'objet d'une analyse concrète.