Théorie dynamique de la microscopie et diffraction électronique. Mesure des intensités
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- Nombre de pages144
- PrésentationBroché
- FormatGrand Format
- Poids0.23 kg
- Dimensions15,5 cm × 2,4 cm × 1,0 cm
- ISBN2-87775-193-7
- EAN9782877751933
- Date de parution12/04/1995
- ÉditeurPU Rouen
Résumé
Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécialisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles.
Les dix chapitres qui constituent cet ouvrage font appel à un outil mathématique le plus souvent élémentaire et sont disposés par ordre d'approximations croissantes. Le chapitre III constitue une exception à ce souci de simplification, car la nécessité d'un traitement des approximations d'ordre supérieur a nécessité l'introduction du calcul matriciel. L'effort qui est demandé au lecteur trouve sa contrepartie dans la possibilité d'utiliser un programme de calcul sur ordinateur fourni à la fin de l'ouvrage.
Un certain nombre de problèmes avec leurs solutions sont également donnés à la fin de chaque chapitre afin de permettre, soit une vérification des connaissances, soit une appréhension des problèmes liminaires non traités dans ce livre. Ils correspondent alors à un niveau de connaissances pouvant dépasser celui du 1er cycle des universités. Six chapitres sont consacrés aux approximations les plus couramment utilisées, les deux suivants aux mesures d'intensités expérimentales et théoriques ; le dernier chapitre constitue un aperçu sur l'utilisation des électrons lents ou de très hautes énergies en microscopie ou en diffraction électronique.
Les dix chapitres qui constituent cet ouvrage font appel à un outil mathématique le plus souvent élémentaire et sont disposés par ordre d'approximations croissantes. Le chapitre III constitue une exception à ce souci de simplification, car la nécessité d'un traitement des approximations d'ordre supérieur a nécessité l'introduction du calcul matriciel. L'effort qui est demandé au lecteur trouve sa contrepartie dans la possibilité d'utiliser un programme de calcul sur ordinateur fourni à la fin de l'ouvrage.
Un certain nombre de problèmes avec leurs solutions sont également donnés à la fin de chaque chapitre afin de permettre, soit une vérification des connaissances, soit une appréhension des problèmes liminaires non traités dans ce livre. Ils correspondent alors à un niveau de connaissances pouvant dépasser celui du 1er cycle des universités. Six chapitres sont consacrés aux approximations les plus couramment utilisées, les deux suivants aux mesures d'intensités expérimentales et théoriques ; le dernier chapitre constitue un aperçu sur l'utilisation des électrons lents ou de très hautes énergies en microscopie ou en diffraction électronique.
Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécialisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles.
Les dix chapitres qui constituent cet ouvrage font appel à un outil mathématique le plus souvent élémentaire et sont disposés par ordre d'approximations croissantes. Le chapitre III constitue une exception à ce souci de simplification, car la nécessité d'un traitement des approximations d'ordre supérieur a nécessité l'introduction du calcul matriciel. L'effort qui est demandé au lecteur trouve sa contrepartie dans la possibilité d'utiliser un programme de calcul sur ordinateur fourni à la fin de l'ouvrage.
Un certain nombre de problèmes avec leurs solutions sont également donnés à la fin de chaque chapitre afin de permettre, soit une vérification des connaissances, soit une appréhension des problèmes liminaires non traités dans ce livre. Ils correspondent alors à un niveau de connaissances pouvant dépasser celui du 1er cycle des universités. Six chapitres sont consacrés aux approximations les plus couramment utilisées, les deux suivants aux mesures d'intensités expérimentales et théoriques ; le dernier chapitre constitue un aperçu sur l'utilisation des électrons lents ou de très hautes énergies en microscopie ou en diffraction électronique.
Les dix chapitres qui constituent cet ouvrage font appel à un outil mathématique le plus souvent élémentaire et sont disposés par ordre d'approximations croissantes. Le chapitre III constitue une exception à ce souci de simplification, car la nécessité d'un traitement des approximations d'ordre supérieur a nécessité l'introduction du calcul matriciel. L'effort qui est demandé au lecteur trouve sa contrepartie dans la possibilité d'utiliser un programme de calcul sur ordinateur fourni à la fin de l'ouvrage.
Un certain nombre de problèmes avec leurs solutions sont également donnés à la fin de chaque chapitre afin de permettre, soit une vérification des connaissances, soit une appréhension des problèmes liminaires non traités dans ce livre. Ils correspondent alors à un niveau de connaissances pouvant dépasser celui du 1er cycle des universités. Six chapitres sont consacrés aux approximations les plus couramment utilisées, les deux suivants aux mesures d'intensités expérimentales et théoriques ; le dernier chapitre constitue un aperçu sur l'utilisation des électrons lents ou de très hautes énergies en microscopie ou en diffraction électronique.
