Czts: cellule photovoltaïque à éléments abondants et non toxiques
Par :Formats :
Définitivement indisponible
Cet article ne peut plus être commandé sur notre site (ouvrage épuisé ou plus commercialisé). Il se peut néanmoins que l'éditeur imprime une nouvelle édition de cet ouvrage à l'avenir. Nous vous invitons donc à revenir périodiquement sur notre site.
- Paiement en ligne :
- Livraison à domicile ou en point Mondial Relay indisponible
- Retrait Click and Collect en magasin gratuit
- Réservation en ligne avec paiement en magasin :
- Indisponible pour réserver et payer en magasin
- Nombre de pages112
- PrésentationBroché
- Poids0.177 kg
- Dimensions15,2 cm × 22,9 cm × 0,7 cm
- ISBN978-3-8416-2774-2
- EAN9783841627742
- Date de parution15/09/2014
- CollectionOMN.PRES.FRANC.
- ÉditeurAcadémiques
Résumé
Ce projet a porté sur la synthèse du matériau massif quaternaire CZTS par le biais de la méthode de Bridgman horizontale et l'élaboration des couches minces dudit matériau par la technique d'évaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois méthodes d'analyse ont été adoptées dans le but d'effectuer la caractérisation structurale, optique et électrique des couches minces de CZTS à savoir la diffraction des rayons X, la spectrométrie UV-Vis ainsi que la méthode de la pointe chaude.
La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats.
La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.
La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats.
La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.
Ce projet a porté sur la synthèse du matériau massif quaternaire CZTS par le biais de la méthode de Bridgman horizontale et l'élaboration des couches minces dudit matériau par la technique d'évaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois méthodes d'analyse ont été adoptées dans le but d'effectuer la caractérisation structurale, optique et électrique des couches minces de CZTS à savoir la diffraction des rayons X, la spectrométrie UV-Vis ainsi que la méthode de la pointe chaude.
La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats.
La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.
La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats.
La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.