Sampling, Wavelets and Tomography (Relié)

John-J Benedetto, Ahmed-I Zayed

Note moyenne : | 0 avis
Ce produit n'a pas encore été évalué. Soyez le premier !
  • Birkhäuser

  • Paru le : 01/01/2004
  • 1 million de livres à découvrir
  • Livraison à domicile à partir de 0,01 €
  • Paiement sécurisé, débit à l'expédition
134,00 €
Neuf - Expédié sous 8 à 14 jours
Livré chez vous entre le 14 décembre et le 21 décembre
ou
Votre note
Sampling, wavelets, and tomography are three active areas of contemporary, mathematics sharing common roots that lie at the heart of harmonic and Fourier analysis. The advent of new techniques in mathematical analysis has strengthened their interdependence and led to some new and interesting results in the field. This state-of-the-art book not only presents new results in these research areas, but it also demonstrates the role of sampling in both wavelet theory and tomography. Aimed at mathematicians, scientists, and engineers working in signal and image processing and medical imaging, the work is designed to be accessible to an audience with diverse mathematical backgrounds. Although the volume reflects the contributions of renowned mathematicians and engineers, each chapter has ah expository introduction written for the non-specialist. One of the key features of the book is an introductory chapter stressing the interdependence of the three main areas covered. A comprehensive index completes the work.
    • Robustness of Regular Sampling in Sobolev Algebras
    • Irregular and Semi-Irregular Weyl-Heisenberg Frames
    • Adaptive Irregular Sampling in Meshfree Flow Simulation
    • Sampling Theorems for Non-Bandlimited Signals
    • Polynomial Matrix Factorization, Multidimensional Filter Banks, and Wavelets
    • Generalized Frame Multiresolution Analysis of Abstract Hilbert Spaces
    • Sampling Theory and Parallel-Beam Tomography
    • Thin-Plate Spline Interpolation in Medical Imaging
    • Filtered Back-Projection Algorithms for Spiral Cone Computed Tomography
  • Date de parution : 01/01/2004
  • Editeur : Birkhäuser
  • ISBN : 0-8176-4304-4
  • EAN : 9780817643041
  • Présentation : Relié
  • Nb. de pages : 350 pages
  • Poids : 0.63 Kg
  • Dimensions : 16,5 cm × 24,7 cm × 2,5 cm

Nos avis clients sur decitre.fr


Avis Trustpilot

Sampling, Wavelets and Tomography est également présent dans les rayons

John-J Benedetto et Ahmed-I Zayed - Sampling, Wavelets and Tomography.
Sampling, Wavelets and Tomography
134,00 €
Haut de page
Decitre utilise des cookies pour vous offrir le meilleur service possible. En continuant votre navigation, vous en acceptez l'utilisation. En savoir plus OK

Ne partez pas tout de suite...

Inscription newsletter