Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors

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Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors.
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Caractéristiques

  • Date de parution
    01/07/2010
  • Editeur
  • ISBN
    978-0-12-384715-7
  • EAN
    9780123847157
  • Présentation
    Cartonné
  • Poids
    0.36 Kg
  • Dimensions
    15,9 cm × 23,7 cm × 2,0 cm

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