Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Relié)

3rd edition

Joseph Goldstein

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  • Paru le : 01/01/2003
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  • Date de parution : 01/01/2003
  • Editeur : Springer
  • ISBN : 0-306-47292-9
  • EAN : 9780306472923
  • Présentation : Relié
  • Poids : 1.68 Kg

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